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馬場 宏; 鈴木 敏夫; 畑 健太郎
Journal of Inorganic and Nuclear Chemistry, 43, p.1059 - 1062, 1981/00
被引用回数:4 パーセンタイル:36.2(Chemistry, Inorganic & Nuclear)表面障壁型半導体検出器を用いて、低エネルギー光子スペクトルを繰返し測定することにより、Puの半減期を測定した。繰返し測定は約600日にわたり43回行った。Pu測定試料は、理研サイクロトロンのHeビームを用いU(He,4n)Pu反応で生成したプルトニウムをイオン交換法により分離精製して調整した。半減期測定に妨害となる不純物放射能はPu及び2Puのみであり、且その妨害はLX線領域に限られていた。不純物放射能の妨害を受けないKX線ならびに線のピーク乃至ピーク群を選んで、それぞれの成分毎に減衰曲線を作成し、最小自乗フィットの操作により、Puの半減期を求めた。得られた半減期の値は45.120.03日であった。